首页 > SCI期刊 > SCIE期刊 > 工程技术 > 中科院2区 > JCRQ1 > 期刊介绍
评价信息:
影响因子:5.6
年发文量:2247
《仪器仪表和测量的IEEE Transactions》(Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement)是一本以工程技术-工程:电子与电气综合研究为特色的国际期刊。该刊由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商创刊于1952年,刊期Bimonthly。该刊已被国际重要权威数据库SCIE收录。期刊聚焦工程技术-工程:电子与电气领域的重点研究和前沿进展,及时刊载和报道该领域的研究成果,致力于成为该领域同行进行快速学术交流的信息窗口与平台。该刊2023年影响因子为5.6。CiteScore指数值为9。
Papers are sought that address innovative solutions to the development and use of electrical and electronic instruments and equipment to measure, monitor and/or record physical phenomena for the purpose of advancing measurement science, methods, functionality and applications. The scope of these papers may encompass: (1) theory, methodology, and practice of measurement; (2) design, development and evaluation of instrumentation and measurement systems and components used in generating, acquiring, conditioning and processing signals; (3) analysis, representation, display, and preservation of the information obtained from a set of measurements; and (4) scientific and technical support to establishment and maintenance of technical standards in the field of Instrumentation and Measurement.
征集的论文应涉及创新解决方案,以开发和使用电气和电子仪器和设备来测量、监控和/或记录物理现象,从而推动测量科学、方法、功能和应用的发展。这些论文的范围可能包括:(1) 测量的理论、方法和实践;(2) 用于生成、获取、调节和处理信号的仪器和测量系统及组件的设计、开发和评估;(3) 分析、表示、显示和保存从一组测量中获得的信息;(4) 对仪器和测量领域技术标准的建立和维护提供科学和技术支持。
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》(仪器仪表和测量的IEEE Transactions)编辑部通讯方式为IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。如果您需要协助投稿或润稿服务,您可以咨询我们的客服老师。我们专注于期刊投稿服务十年,熟悉发表政策,可为您提供一对一投稿指导,避免您在投稿时频繁碰壁,节省您的宝贵时间,有效提升发表机率,确保SCI检索(检索不了全额退款)。我们视信誉为生命,多方面确保文章安全保密,在任何情况下都不会泄露您的个人信息或稿件内容。
2023年12月升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 是 | 否 |
2022年12月升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
2021年12月旧的升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
2021年12月基础版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 3区 2区 | 否 | 否 |
2021年12月升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
2020年12月旧的升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 | 2区 2区 | 否 | 否 |
基础版:即2019年12月17日,正式发布的《2019年中国科学院文献情报中心期刊分区表》;将JCR中所有期刊分为13个大类,期刊范围只有SCI期刊。
升级版:即2020年1月13日,正式发布的《2019年中国科学院文献情报中心期刊分区表升级版(试行)》,升级版采用了改进后的指标方法体系对基础版的延续和改进,影响因子不再是分区的唯一或者决定性因素,也没有了分区的IF阈值期刊由基础版的13个学科扩展至18个,科研评价将更加明确。期刊范围有SCI期刊、SSCI期刊。从2022年开始,分区表将只发布升级版结果,不再有基础版和升级版之分,基础版和升级版(试行)将过渡共存三年时间。
JCR分区等级:Q1
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 53 / 352 |
85.1% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 9 / 76 |
88.8% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 52 / 354 |
85.45% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 7 / 76 |
91.45% |
Gold OA文章占比 | 研究类文章占比 | 文章自引率 |
6.42% | 99.47% | 0.23... |
开源占比 | 出版国人文章占比 | OA被引用占比 |
0.07... | 0.31 | -- |
名词解释:JCR分区在学术期刊评价、科研成果展示、科研方向引导以及学术交流与合作等方面都具有重要的价值。通过对期刊影响因子的精确计算和细致划分,JCR分区能够清晰地反映出不同期刊在同一学科领域内的相对位置,从而帮助科研人员准确识别出高质量的学术期刊。
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指数 | ||||||||||||
9 | 1.536 | 1.741 |
|
名词解释:CiteScore是基于Scopus数据库的全新期刊评价体系。CiteScore 2021 的计算方式是期刊最近4年(含计算年度)的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。CiteScore基于全球最广泛的摘要和引文数据库Scopus,适用于所有连续出版物,而不仅仅是期刊。目前CiteScore 收录了超过 26000 种期刊,比获得影响因子的期刊多13000种。被各界人士认为是影响因子最有力的竞争对手。
历年中科院分区趋势图
历年IF值(影响因子)
历年引文指标和发文量
历年自引数据
2019-2021年国家/地区发文量统计
国家/地区 | 数量 |
CHINA MAINLAND | 696 |
Italy | 237 |
USA | 215 |
India | 144 |
England | 101 |
Canada | 92 |
GERMANY (FED REP GER) | 70 |
Spain | 53 |
South Korea | 47 |
Brazil | 38 |
2019-2021年机构发文量统计
机构 | 数量 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (I... | 85 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 50 |
XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY | 44 |
TSINGHUA UNIVERSITY | 42 |
TIANJIN UNIVERSITY | 40 |
BEIHANG UNIVERSITY | 39 |
UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM | 33 |
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY | 30 |
SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY | 28 |
SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY | 28 |
2019-2021年文章引用数据
文章引用名称 | 引用次数 |
Automatic Defect Detection of Fasteners ... | 54 |
Intelligent Bearing Fault Diagnosis Meth... | 53 |
Medical Image Fusion With Parameter-Adap... | 43 |
Monitoring of Large-Area IoT Sensors Usi... | 40 |
Vibration-Based Intelligent Fault Diagno... | 34 |
Deep Architecture for High-Speed Railway... | 26 |
Highly Sensitive SPR Biosensor Based on ... | 26 |
RideNN: A New Rider Optimization Algorit... | 25 |
An Unsupervised-Learning-Based Approach ... | 21 |
A CNN-Based Defect Inspection Method for... | 20 |
2019-2021年文章被引用数据
被引用期刊名称 | 数量 |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE ACCESS | 940 |
SENSORS-BASEL | 761 |
IEEE SENS J | 555 |
MEASUREMENT | 390 |
ENERGIES | 245 |
APPL SCI-BASEL | 194 |
ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
IEEE T IND ELECTRON | 149 |
MEAS SCI TECHNOL | 149 |
2019-2021年引用数据
引用期刊名称 | 数量 |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE SENS J | 265 |
IEEE T IND ELECTRON | 205 |
MEAS SCI TECHNOL | 203 |
SENSORS-BASEL | 177 |
IEEE T MICROW THEORY | 174 |
METROLOGIA | 167 |
IEEE T POWER DELIVER | 162 |
MEASUREMENT | 151 |
MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
中科院分区:1区
影响因子:7.7
审稿周期:约Time to first decision: 9 days; Review time: 64 days; Submission to acceptance: 82 days; 约2.7个月 约7.8周
中科院分区:1区
影响因子:8.1
审稿周期:约Time to first decision: 6 days; Review time: 44 days; Submission to acceptance: 54 days; 约4.1个月 约6.8周
中科院分区:3区
影响因子:3.3
审稿周期:约17.72天 11 Weeks
中科院分区:2区
影响因子:5.8
审稿周期: 约2.4个月 约7.6周
中科院分区:2区
影响因子:5.1
审稿周期: 约1.9个月 约2.7周
中科院分区:2区
影响因子:4.8
审稿周期: 约2.7个月 约7.5周
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