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评价信息:
影响因子:1.9
年发文量:293
《微电子杂志》(Microelectronics Journal)是一本以工程技术-工程:电子与电气综合研究为特色的国际期刊。该刊由Elsevier出版商创刊于1967年,刊期Monthly。该刊已被国际重要权威数据库SCIE收录。期刊聚焦工程技术-工程:电子与电气领域的重点研究和前沿进展,及时刊载和报道该领域的研究成果,致力于成为该领域同行进行快速学术交流的信息窗口与平台。该刊2023年影响因子为1.9。CiteScore指数值为4。
Published since 1969, the Microelectronics Journal is an international forum for the dissemination of research and applications of microelectronic systems, circuits, and emerging technologies. Papers published in the Microelectronics Journal have undergone peer review to ensure originality, relevance, and timeliness. The journal thus provides a worldwide, regular, and comprehensive update on microelectronic circuits and systems.
The Microelectronics Journal invites papers describing significant research and applications in all of the areas listed below. Comprehensive review/survey papers covering recent developments will also be considered. The Microelectronics Journal covers circuits and systems. This topic includes but is not limited to: Analog, digital, mixed, and RF circuits and related design methodologies; Logic, architectural, and system level synthesis; Testing, design for testability, built-in self-test; Area, power, and thermal analysis and design; Mixed-domain simulation and design; Embedded systems; Non-von Neumann computing and related technologies and circuits; Design and test of high complexity systems integration; SoC, NoC, SIP, and NIP design and test; 3-D integration design and analysis; Emerging device technologies and circuits, such as FinFETs, SETs, spintronics, SFQ, MTJ, etc.
Application aspects such as signal and image processing including circuits for cryptography, sensors, and actuators including sensor networks, reliability and quality issues, and economic models are also welcome.
《微电子学杂志》自 1969 年创刊以来,是一个传播微电子系统、电路和新兴技术研究和应用的国际论坛。《微电子学杂志》上发表的论文都经过同行评审,以确保其原创性、相关性和时效性。因此,该杂志提供了有关微电子电路和系统的全球定期全面更新。
《微电子学杂志》诚邀撰写描述以下所有领域重要研究和应用的论文。涵盖最新发展的综合评论/调查论文也将予以考虑。《微电子学杂志》涵盖电路和系统。该主题包括但不限于:模拟、数字、混合和射频电路及相关设计方法;逻辑、架构和系统级综合;测试、可测试性设计、内置自测试;面积、功率和热分析与设计;混合域仿真与设计;嵌入式系统;非冯诺依曼计算及相关技术和电路;高复杂度系统集成的设计和测试; SoC、NoC、SIP 和 NIP 设计和测试;3-D 集成设计和分析;新兴器件技术和电路,如 FinFET、SET、自旋电子学、SFQ、MTJ 等。
也欢迎应用方面,例如信号和图像处理(包括密码电路)、传感器和执行器(包括传感器网络)、可靠性和质量问题以及经济模型。
《Microelectronics Journal》(微电子杂志)编辑部通讯方式为ELSEVIER SCI LTD, THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OXON, OX5 1GB。如果您需要协助投稿或润稿服务,您可以咨询我们的客服老师。我们专注于期刊投稿服务十年,熟悉发表政策,可为您提供一对一投稿指导,避免您在投稿时频繁碰壁,节省您的宝贵时间,有效提升发表机率,确保SCI检索(检索不了全额退款)。我们视信誉为生命,多方面确保文章安全保密,在任何情况下都不会泄露您的个人信息或稿件内容。
2023年12月升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 | 3区 4区 | 否 | 否 |
2022年12月升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 | 3区 4区 | 否 | 否 |
2021年12月旧的升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 | 4区 4区 | 否 | 否 |
2021年12月基础版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 4区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 | 4区 4区 | 否 | 否 |
2021年12月升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 | 4区 4区 | 否 | 否 |
2020年12月旧的升级版
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 | 4区 4区 | 否 | 否 |
基础版:即2019年12月17日,正式发布的《2019年中国科学院文献情报中心期刊分区表》;将JCR中所有期刊分为13个大类,期刊范围只有SCI期刊。
升级版:即2020年1月13日,正式发布的《2019年中国科学院文献情报中心期刊分区表升级版(试行)》,升级版采用了改进后的指标方法体系对基础版的延续和改进,影响因子不再是分区的唯一或者决定性因素,也没有了分区的IF阈值期刊由基础版的13个学科扩展至18个,科研评价将更加明确。期刊范围有SCI期刊、SSCI期刊。从2022年开始,分区表将只发布升级版结果,不再有基础版和升级版之分,基础版和升级版(试行)将过渡共存三年时间。
JCR分区等级:Q3
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2% |
学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 110 / 140 |
21.8% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 238 / 354 |
32.91% |
学科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q3 | 94 / 140 |
33.21% |
Gold OA文章占比 | 研究类文章占比 | 文章自引率 |
2.61% | 99.32% | 0.27... |
开源占比 | 出版国人文章占比 | OA被引用占比 |
0.01... | -- | 0.00... |
名词解释:JCR分区在学术期刊评价、科研成果展示、科研方向引导以及学术交流与合作等方面都具有重要的价值。通过对期刊影响因子的精确计算和细致划分,JCR分区能够清晰地反映出不同期刊在同一学科领域内的相对位置,从而帮助科研人员准确识别出高质量的学术期刊。
CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指数 | ||||||||||||||||||||||||
4 | 0.39 | 0.854 |
|
名词解释:CiteScore是基于Scopus数据库的全新期刊评价体系。CiteScore 2021 的计算方式是期刊最近4年(含计算年度)的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。CiteScore基于全球最广泛的摘要和引文数据库Scopus,适用于所有连续出版物,而不仅仅是期刊。目前CiteScore 收录了超过 26000 种期刊,比获得影响因子的期刊多13000种。被各界人士认为是影响因子最有力的竞争对手。
历年中科院分区趋势图
历年IF值(影响因子)
历年引文指标和发文量
历年自引数据
2019-2021年文章引用数据
文章引用名称 | 引用次数 |
Programmable multi-direction fully integ... | 13 |
Performance improvement of nano wire TFE... | 12 |
A survey of single and multi-component F... | 12 |
Classical and fractional-order modeling ... | 9 |
Wearable technologies for hand joints mo... | 9 |
Electronically reconfigurable two-path f... | 8 |
Fractional-order band-pass filter design... | 7 |
Entanglement and physical attributes of ... | 7 |
Multi stage OTA design: From matrix desc... | 7 |
Memristor-CNTFET based ternary logic gat... | 7 |
2019-2021年文章被引用数据
被引用期刊名称 | 数量 |
MICROELECTRON J | 225 |
AEU-INT J ELECTRON C | 129 |
ANALOG INTEGR CIRC S | 105 |
J CIRCUIT SYST COMP | 85 |
IEEE ACCESS | 72 |
CIRC SYST SIGNAL PR | 53 |
INT J THEOR PHYS | 44 |
IET CIRC DEVICE SYST | 43 |
SENSORS-BASEL | 43 |
INTEGRATION | 41 |
2019-2021年引用数据
引用期刊名称 | 数量 |
IEEE J SOLID-ST CIRC | 377 |
MICROELECTRON J | 225 |
IEEE T CIRCUITS-I | 195 |
IEEE T ELECTRON DEV | 156 |
IEEE T CIRCUITS-II | 127 |
AEU-INT J ELECTRON C | 117 |
IEEE T VLSI SYST | 107 |
ELECTRON LETT | 95 |
IEEE T MICROW THEORY | 88 |
IEEE ELECTR DEVICE L | 80 |
中科院分区:1区
影响因子:7.7
审稿周期:约Time to first decision: 9 days; Review time: 64 days; Submission to acceptance: 82 days; 约2.7个月 约7.8周
中科院分区:1区
影响因子:8.1
审稿周期:约Time to first decision: 6 days; Review time: 44 days; Submission to acceptance: 54 days; 约4.1个月 约6.8周
中科院分区:3区
影响因子:3.3
审稿周期:约17.72天 11 Weeks
中科院分区:2区
影响因子:5.8
审稿周期: 约2.4个月 约7.6周
中科院分区:2区
影响因子:5.1
审稿周期: 约1.9个月 约2.7周
中科院分区:2区
影响因子:4.8
审稿周期: 约2.7个月 约7.5周
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