首页 > SCI期刊 > SCIE期刊 > 计算机科学 > 中科院4区 > JCRQ4 > 期刊介绍

Journal Of Electronic Imaging

评价信息:

影响因子:1

年发文量:316

电子影像杂志 SCIE

Journal Of Electronic Imaging

《电子影像杂志》(Journal Of Electronic Imaging)是一本以工程技术-成像科学与照相技术综合研究为特色的国际期刊。该刊由SPIE出版商创刊于1992年,刊期Quarterly。该刊已被国际重要权威数据库SCIE收录。期刊聚焦工程技术-成像科学与照相技术领域的重点研究和前沿进展,及时刊载和报道该领域的研究成果,致力于成为该领域同行进行快速学术交流的信息窗口与平台。该刊2023年影响因子为1。CiteScore指数值为1.7。

投稿咨询 加急发表

期刊简介预计审稿时间: 约4.0个月

The Journal of Electronic Imaging publishes peer-reviewed papers in all technology areas that make up the field of electronic imaging and are normally considered in the design, engineering, and applications of electronic imaging systems.

《电子成像杂志》发表电子成像领域所有技术领域的同行评审论文,这些论文通常涉及电子成像系统的设计、工程和应用。

《Journal Of Electronic Imaging》(电子影像杂志)编辑部通讯方式为I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。如果您需要协助投稿或润稿服务,您可以咨询我们的客服老师。我们专注于期刊投稿服务十年,熟悉发表政策,可为您提供一对一投稿指导,避免您在投稿时频繁碰壁,节省您的宝贵时间,有效提升发表机率,确保SCI检索(检索不了全额退款)。我们视信誉为生命,多方面确保文章安全保密,在任何情况下都不会泄露您的个人信息或稿件内容。

中科院分区

2023年12月升级版

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

2022年12月升级版

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

2021年12月旧的升级版

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

2021年12月基础版

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

2021年12月升级版

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区

2020年12月旧的升级版

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
名词解释:

基础版:即2019年12月17日,正式发布的《2019年中国科学院文献情报中心期刊分区表》;将JCR中所有期刊分为13个大类,期刊范围只有SCI期刊。

升级版:即2020年1月13日,正式发布的《2019年中国科学院文献情报中心期刊分区表升级版(试行)》,升级版采用了改进后的指标方法体系对基础版的延续和改进,影响因子不再是分区的唯一或者决定性因素,也没有了分区的IF阈值期刊由基础版的13个学科扩展至18个,科研评价将更加明确。期刊范围有SCI期刊、SSCI期刊。从2022年开始,分区表将只发布升级版结果,不再有基础版和升级版之分,基础版和升级版(试行)将过渡共存三年时间。

JCR分区(2023-2024年最新版)

JCR分区等级:Q4

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

学科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

学科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

Gold OA文章占比 研究类文章占比 文章自引率
3.76% 98.10% 0.27...
开源占比 出版国人文章占比 OA被引用占比
0.03... -- 0.05...

名词解释:JCR分区在学术期刊评价、科研成果展示、科研方向引导以及学术交流与合作等方面都具有重要的价值。通过对期刊影响因子的精确计算和细致划分,JCR分区能够清晰地反映出不同期刊在同一学科领域内的相对位置,从而帮助科研人员准确识别出高质量的学术期刊。

CiteScore 指数(2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore 指数
1.7 0.264 0.357
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大类:Engineering 小类:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

名词解释:CiteScore是基于Scopus数据库的全新期刊评价体系。CiteScore 2021 的计算方式是期刊最近4年(含计算年度)的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。CiteScore基于全球最广泛的摘要和引文数据库Scopus,适用于所有连续出版物,而不仅仅是期刊。目前CiteScore 收录了超过 26000 种期刊,比获得影响因子的期刊多13000种。被各界人士认为是影响因子最有力的竞争对手。

数据趋势图

历年中科院分区趋势图

历年IF值(影响因子)

历年引文指标和发文量

历年自引数据

发文数据

2019-2021年文章引用数据

文章引用名称 引用次数
Image privacy scheme using quantum spinn... 13
Defogging of road images using gain coef... 10
SWCD: a sliding window and self-regulate... 10
Single image dehazing using a multilayer... 10
Optimized fuzzy cellular automata for sy... 9
Infrared and visible image fusion based ... 8
Image segmentation via multilevel thresh... 8
Joint classification of multiresolution ... 7
Improved opponent color local binary pat... 6
Combining background subtraction algorit... 6

2019-2021年文章被引用数据

被引用期刊名称 数量
IEEE ACCESS 167
J ELECTRON IMAGING 163
MULTIMED TOOLS APPL 118
SENSORS-BASEL 67
SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
APPL SCI-BASEL 29
IEEE T IMAGE PROCESS 29
IET IMAGE PROCESS 29
OPT EXPRESS 27
NEUROCOMPUTING 26

2019-2021年引用数据

引用期刊名称 数量
IEEE T IMAGE PROCESS 573
IEEE T PATTERN ANAL 435
J ELECTRON IMAGING 163
PATTERN RECOGN 159
INT J COMPUT VISION 153
NEUROCOMPUTING 118
IEEE T CIRC SYST VID 105
ACM T GRAPHIC 74
MULTIMED TOOLS APPL 74
PATTERN RECOGN LETT 73

相关期刊

免责声明

若用户需要出版服务,请联系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。